EN
Служебный вход
Вход в систему
Имя пользователя:
*
Пароль:
*
Какой код на картинке?:
*
Введите символы с картинки
abiturient.by
- Справочный ресурс для поступающих!
ABITURIENT.BY
Контакты
О проекте
В ПОМОЩЬ АБИТУРИЕНТУ
Поиск учреждения высшего образования по специальности
Сравнение своих показателей с прошлогодними проходными баллами
Поступающим на целевые места (с интерактивной картой УВО)
Поступающим без вступительных испытаний
Выпускникам профильных классов профессиональной направленности
Поступление абитуриентов из Российской Федерации
Вашему вниманию
Новости
Каталог учреждений высшего образования
Каталог специальностей ОКРБ 011-2022
6-05 (бакалавр)
7-06 (магистр)
7-07 (магистр, спец. ВО)
9-08 (переподготовка)
9-09 (переподготовка ВО)
ЦЭ/ЦТ в 2025 г.
Каталог курсов повышения квалификации в учреждениях высшего образования
Полезно знать
Порядки приема в УВО
Что такое "Интеллектуальная собственность"?
Программы вступительных испытаний
Инструкция по использованию сайта
О проекте
Контакты проекта
Каталог учреждений высшего образования
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
(Минск и Минская область)
Кафедра проектирования информационно-компьютерных систем (ПИКС)
Краткая информация
Заведующий кафедрой
Хорошко Виталий Викторович
кандидат технических наук, доцент
Направление научной работы
Основным научным направлением кафедры является выполнение работ по проектированию высоконадежных информационно-компьютерных систем.
Исследования проводятся в рамках госбюджетной НИР ГБ N17-2021 «Методы и алгоритмы построения информационно-компьютерных систем» (научный руководитель - АЛЕКСЕЕВ Виктор Федорович, ответственный исполнитель - ПИСКУН Геннадий Адамович).
В рамках основного научного направления выполняются работы по следующим основным тематикам:
- «Методы моделирования и оптимизации параметров электронных систем, устойчивых к воздействию дестабилизирующих факторов» (Алексеев В.Ф. - канд.техн.наук, доцент; Боровиков С.М. - канд.техн.наук, доцент; Ефименко С.А. - канд.техн.наук, доцент; Петлицкая Т.В. - канд.техн.наук, доцент; Пискун Г.А. - канд.техн.наук, доцент; Чигирь Г.Г. - канд.техн.наук, доцент; Шаталова В.В. - канд.техн.наук, доцент);
- «Методы, алгоритмы и технические средства защиты информации и обеспечения безопасности объектов» (Алефиренко В.М. - канд.техн.наук, доцент; Галузо В.Е. - канд.техн.наук, доцент; Бересневич А.И. - магистр технических наук, старший преподаватель; Логин В.М. - магистр технических наук, старший преподаватель; Перевощиков В.А. - магистр технических наук, старший преподаватель);
- «Исследование структурных, электрических и оптических свойств тонкопленочных материалов для использования их в солнечных эле-ментах» (Гременок В.Ф. - д-р физ.-мат.наук, профессор; Хорошко В.В. - канд.техн.наук, доцент);
- «Разработка на основе силицидов и оксидов переходных металлов наноструктурных материалов и технологий формирования на пластинах кремния тонкопленочных покрытий» (Баранов В.В. - д-р техн.наук, профессор);
- «Радиочастотная идентификация объектов» (Лихачевский Д.В. - канд.техн.наук, доцент; Рак А.О. - канд.физ.-мат.наук, доцент);
- создание и освоение в производстве комплекса конкурентоспособного лазерного прецизионного оборудования для изготовления высоко-точных оригиналов топологий изделий электронной техники (Матюшков В.Е. - д-р техн.наук, профессор);
- обработка пространственно-временных трехмерных изображений при идентификации подвижных объектов со стационарной и изменяющейся формой поверхности (Ролич О.Ч. - канд.техн.наук, доцент).
Участие в Государственных программах научных исследований:
-научный коллектив под руководством Цырельчука И.Н. - канд.техн.наук, доцента и ответственного исполнителя Хорошко В.В. - канд.техн.наук, доцента - участвует в выполнении государственной программы 1.06 «Физическое материаловедение, новые материалы и технологии», задание «Формирование и физические характеристики тонких пленок сульфида индия (In2S3) и сульфида кадмия (CdS) для оптоэлектронных устройств»;
-научный коллектив в составе Ефименко С.А. - канд.техн.наук, доцента, Петлицкая Т.В. - канд.техн.наук, доцента, Чигирь Г.Г. - канд.техн.наук, доцента выполняют исследования в рамках ГПНИ «Фотоника, опто- и микроэлектроника»;
-научный коллектив под руководством Баранова В.В.
- д-ра техн.наук, профессора − участвует в выполнении: ГПНИ «Фотоника, опто- и микроэлектроника» (задание 3.2.01 «Разработка и исследование высоко-стабильных интегрированных пленочных структур на основе переходных металлов и сформированных по твердофазным реакциям их сплавов и соединений для изделий силовой электроники») и ГПНИ «Энергетические системы, процессы и технологии» подпрограмма «Эффективные теплофизические процессы и технологии» (задание 2.18 «Разработать эффективные модули нагрева термолабильных жидких реактивов и методы финишной очистки кремниевых пластин для совершенствования технологии на участках химической обработки»).
Выполнение грантов и хозяйственных договоров:
Под руководством Рака А.О. - канд.физ.-мат.наук, доцента − научный коллектив участвует в выполнении следующих грантов БРФФИ-РФФИ:
- Ф17Д-009 «Моделирование и оптимизация рабочих характеристик
сверхпроводящих резонаторов для линейного протонного ускорителя»;
- Ф17РМ-052 «Генераторы и усилители мощного излучения субтерагерцового и терагерцового диапазонов с перспективными электродинамическими структурами, созданными на базе фотонных кристаллов или с применением сверхпроводящих материалов»
Доцент кафедры Колбун В.С. участвует в программе СНГ «Разработка космических и наземных средств обеспечения потребителей России и Беларуси информацией дистанционного зондирования Земли» («Мониторинг-СГ»).
ПИКС.Научная работа
ПИКС.Научная работа
ПИКС.Научная работа
При проведении научных исследований преподаватели кафедры сотрудничают с учеными и специалистами Национальной академии наук Беларуси, других вузов Беларуси, Российской Федерации, а также с коллегами из стран дальнего зарубежья.
::УЧАСТИЕ В КОНФЕРЕНЦИЯХ
Основные результаты научных исследований ежегодно обсуждаются на международных и республиканских конференциях.
Ежегодно преподаватели, аспиранты, магистранты и студенты принимают участие более чем в 20 конференциях.
:: ПАТЕНТЫ ЗА 2013-2017 ГОДЫ
1. Способ изготовления интегральных микросхем по МОП-технологии: пат. 21442 Респ. Беларусь, МПК H 01L 21/335 / А.С. Турцевич; В.А. Солодуха; В.В. Глухманчук; Л.Г. Сятковски; С.А. Ефименко; заявитель ОАО «ИНТЕГРАЛ» - управляющая компания холдинга «ИНТЕГРАЛ». - N a 20140197; заявл. 26.03.2014; опубл. 30.10.2017 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2017. - N5. - С. 135.
Скачать
2. Способ испытаний интегральных микросхем на коррозионную стойкость: пат. 20116 Респ. Беларусь, МПК G 01R 31/28 / А.С. Турцевич; В.А. Солодуха; Е.П. Самцов; А.С. Горегляд; С.А. Ефименко; заявитель ОАО «ИНТЕГРАЛ» - управляющая компания холдинга «ИНТЕГРАЛ». - N a 20130642; заявл. 18.05.2013; опубл. 30.06.2016 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2016. - N3. - С. 102.
3. Способ разбраковки микроконтроллеров со встроенной флешпамятью после воздействия разряда статического электричества: пат. 21277 Респ. Беларусь, МПК G 01R 31/26 / Г.А. Пискун, В.Ф. Алексеев; заявитель Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. - N а 20140093; заявл. 05.02.2014; опубл. 30.09.2015 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2015. - N 5. - С. 18.
Скачать
4. Способ изготовления кремниевой интегральных микросхемы : пат. 18136 Респ. Беларусь, МПК H 01L 21/77, H 01L 21/04 / А.С. Турцевич; В.А. Солодуха; В.Е. Шикуло, С.А. Ефименко, О.Ю. Наливайко, И.В. Малый; заявитель ОАО «ИНТЕГРАЛ» - управляющая компания холдинга «ИНТЕГРАЛ». - N a 20111797; заявл. 22.12.2012; опубл. 30.04.2014 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2014. - N5. - С. 108-109.
Скачать
5. Способ испытания микроконтроллеров на устойчивость к воздействию электростатических разрядов: пат. 17253 Респ. Беларусь, МПК G 01R 31/26, G 11C 29/52 / Г.А. Пискун, В.Ф. Алексеев, О.А. Брылева; заявитель Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. - N а 20120290; заявл. 28.02.2012; опубл. 30.06.2013 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2013. - N 3. - С. 142-143.
Скачать
6. Способ получения тонких пленок SnS: пат. 17820 Респ. Беларусь, МПК H01L 31/18, C23C 14/24, C30B 29/46 / С.А. Башкиров, В.Ф. Гременок; заявитель Государственное научно-производственное объединение «Научно-практический центр Национальной академии наук Беларуси по материаловедению». - N а 20120124; заявл. 27.01.2012; опубл. 30.08.2013 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2013. - N 5. - С. 152.
Скачать
7. Тонкопленочный полупроводниковый фотодетектор: пат. 16917 Респ. Беларусь, МПК H01L 31/18 / В.Ф. Гременок, С.А. Башкиров; заявитель Государственное научно-производственное объединение «Научно-практический центр Национальной академии наук Беларуси по материаловедению». - N а 20120124; заявл. 28.04.2011; опубл. 28.02.2013 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2013. - N 1. - С. 131-132
:: МОНОГРАФИИ
Боровиков, С.М. Статистическое прогнозирование для отбраковки потенциально ненадежных изделий электронной техники
Боровиков, С.М. Статистическое прогнозирование для отбраковки потенциально ненадежных изделий электронной техники: монография / Боровиков С.М. - Москва: Новое знание, 2013. - 342 с. - ISBN 978-5-94735-161-3
В монографии на основе обобщения и систематизации подходов, используемых для статистического прогнозирования надёжности изделий электронной техники, предложены и исследованы новые методы, позволяющие более эффективно отбраковывать из готовой продукции потенциально ненадёжные экземпляры и (или) выполнять отбор экземпляров повышенного уровня надёжности, а также прогнозировать надёжность выборок (партий) изделий по постепенным отказам.
Башкиров, С.А. Тонкие пленки SnS для приборов оптоэлектроники
Башкиров, С.А. Тонкие пленки SnS для приборов оптоэлектроники / С.А. Башкиров, В.Ф. Гременок - Saarbrucken : LAP LAMBERT Academic Publishing GmbH & Co, 2013. − 109 с.
В работе проведен обзор результатов исследования моносульфида олова (SnS) в контексте потенциального использования данного соединения в фотовольтаических устройствах. Представлены результаты исследований микроструктуры и оптических свойств тонких пленок SnS, полученных методом «горячей стенки», а также создание модельных фоточувствительных тонкопленочных структур на основе SnS. Работа будет полезна специалистам в области полупроводникового приборостроения и тонкопленочной электроники, а также студентам и аспирантам соответствующих специальностей.
Прогнозирование надёжности изделий электронной техники
Прогнозирование надёжности изделий электронной техники / С.М. Боровиков, И.Н. Цырельчук, Е.Н. Шнейдеров, А.И. Бересневич; под ред. С.М. Боровикова; УО «Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники». − Минск: МГВРК, 2010. − 308 с.: ил. - ISBN 978-985-526-074-6
В монографии рассмотрены вопросы статистического прогнозирования надёжности изделий электронной техники с использованием физического моделирования наработки изделий. Приводятся теоретические разработки и экспериментальные исследования метода пороговой логики и метода имитационных воздействий, предложенных авторами для индивидуального прогнозирования надёжности изделий электронной техники. На примере биполярных транзисторов показано применение физико-статистических моделей деградации параметров для группового прогнозирования параметрической надёжности полупроводниковых приборов.
Для научных и инженерно-технических работников, преподавателей, аспирантов, магистрантов и студентов вузов.
Цырельчук, Н.А. Рефлексивное управление
Цырельчук, Н.А. Рефлексивное управление: монография / Н.А. Цырельчук, И.Н. Цырельчук, Н.Н. Цырельчук. − Мн.: МГВРК, 2008. - 512 с. - ISBN 978-985-6851-57-8
Рассматривается процесс трансформации менеджмента в новой, созвучной современности архетип рефлексивного управления. Проведен научный анализ смыслового пространства категорий «управление» и «менеджмент» в контексте исторического развития науки и общественной практики; современных социокультурных тенденций; разновидностей менеджмента (системного, ситуационного, стратегического, партисипативного, образовательного и др.); феномена рефлексии с выделением контекстов «рефлексия и мышление», «рефлексия и сознание», «рефлексия и деятельность» и др.; рефлексивного потенциала основных сил развития системы среднего специального образования Республики Беларусь − интрапренерских (элитных) групп научно-педагогической общественности.
Для исследователей проблематики управления и психолого-педагогической проблематики, менеджеров-практиков и педагогов-практиков, аспирантов, студентов и всех, кто интересуется современными тенденциями в менеджменте, образовании, педагогической деятельности.
Гременок, В.Ф. Солнечные элементы на основе полупроводниковых материалов / В.Ф. Гременок, М.С. Тиванов, В.Б. Залеcский. - Минск: Изд. Центр БГУ, 2007. - 222 с. - ISBN 985-476-443-5.
В коллективной монографии представлены наиболее важные результаты достижений последних лет по основным проблемам полупроводниковой гелиоэнергетики. В издании изложены не только теоретические аспекты той или иной проблемы, но и описаны технологии получения и конструкции полупроводниковых солнечных элементов и действующих модулей, а также показаны перспективы внедрения фотопреобразователй в практику. Книга будет полезна специалистам, работающим в области полупроводникового приборостроения и тонкоплѐночной электроники, а также студентам и аспирантам соответствующих специальностей.
Урбанович, П.П. Избыточность в полупроводниковых интегральных микросхемах памяти / П.П. Урбанович, В.Ф. Алексеев, Е.А. Верниковский. − Мн.: Навука і тэхніка, 1995. − 262 с. - ISBN 5-343-01188-8.
В монографии рассмотрены вопросы разработки и производства избыточных полупроводниковых микросхем памяти (МП). Описаны математические модели распределения статистически независимых и группирующихся дефектных и отказавших элементов на кристаллах МП, построенные на базе обширных статистических данных о характере и причинах возникновения неисправностей. Изложена методика прогнозирующего расчета выхода годных и надежности избыточных МП. Предложены методы построения и схемотехнические решения устройств нейтрализации ошибок, основанные на резервировании корректирующих кодов.
Предназначена для научно-технических работников, специализирующихся в области создания полупроводниковой памяти. Может быть полезна преподавателям, аспирантам и студентам старших курсов вузов соответствующих специальностей.
скачать радионавигации, радиолокации и телевидения.
Дата основания
1964
№ кабинета
412-1
Web-сайт
https://www.bsuir.by/ru/kaf-piks
E-mail
kafres
[at]
bsuir [dot] by
Специальности ОКРБ 011-2009
Моделирование и компьютерное проектирование радиоэлектронных средств
Техническое обеспечение безопасности
Показатели работы в 2024 г.
Печатных изданий
80
Предприятия для распределения выпускников
ОАО «Завод «Спецавтоматика» г. Минск, ЧНИУП «Институт цифрового телевидения» г. Минск, ПРУП « Минский механический завод им. Вавилова» г. Минск, ОАО «МПОВТ» г. Минск, НИРУП «НИИ средств автоматизации» г. Минск, РПУП «Лес» г. Барань Витебская обл., РУПП «Витязь» г. Витебск