Кафедра проектирования информационно-компьютерных систем (ПИКС)

Краткая информация

Заведующий кафедрой

Хорошко Виталий Викторович

кандидат технических наук, доцент
Направление научной работы Основным научным направлением кафедры является выполнение работ по проектированию высоконадежных информационно-компьютерных систем.
Исследования проводятся в рамках госбюджетной НИР ГБ N17-2021 «Методы и алгоритмы построения информационно-компьютерных систем» (научный руководитель - АЛЕКСЕЕВ Виктор Федорович, ответственный исполнитель - ПИСКУН Геннадий Адамович).
В рамках основного научного направления выполняются работы по следующим основным тематикам:
- «Методы моделирования и оптимизации параметров электронных систем, устойчивых к воздействию дестабилизирующих факторов» (Алексеев В.Ф. - канд.техн.наук, доцент; Боровиков С.М. - канд.техн.наук, доцент; Ефименко С.А. - канд.техн.наук, доцент; Петлицкая Т.В. - канд.техн.наук, доцент; Пискун Г.А. - канд.техн.наук, доцент; Чигирь Г.Г. - канд.техн.наук, доцент; Шаталова В.В. - канд.техн.наук, доцент);
- «Методы, алгоритмы и технические средства защиты информации и обеспечения безопасности объектов» (Алефиренко В.М. - канд.техн.наук, доцент; Галузо В.Е. - канд.техн.наук, доцент; Бересневич А.И. - магистр технических наук, старший преподаватель; Логин В.М. - магистр технических наук, старший преподаватель; Перевощиков В.А. - магистр технических наук, старший преподаватель);
- «Исследование структурных, электрических и оптических свойств тонкопленочных материалов для использования их в солнечных эле-ментах» (Гременок В.Ф. - д-р физ.-мат.наук, профессор; Хорошко В.В. - канд.техн.наук, доцент);
- «Разработка на основе силицидов и оксидов переходных металлов наноструктурных материалов и технологий формирования на пластинах кремния тонкопленочных покрытий» (Баранов В.В. - д-р техн.наук, профессор);
- «Радиочастотная идентификация объектов» (Лихачевский Д.В. - канд.техн.наук, доцент; Рак А.О. - канд.физ.-мат.наук, доцент);
- создание и освоение в производстве комплекса конкурентоспособного лазерного прецизионного оборудования для изготовления высоко-точных оригиналов топологий изделий электронной техники (Матюшков В.Е. - д-р техн.наук, профессор);
- обработка пространственно-временных трехмерных изображений при идентификации подвижных объектов со стационарной и изменяющейся формой поверхности (Ролич О.Ч. - канд.техн.наук, доцент).
Участие в Государственных программах научных исследований:
-научный коллектив под руководством Цырельчука И.Н. - канд.техн.наук, доцента и ответственного исполнителя Хорошко В.В. - канд.техн.наук, доцента - участвует в выполнении государственной программы 1.06 «Физическое материаловедение, новые материалы и технологии», задание «Формирование и физические характеристики тонких пленок сульфида индия (In2S3) и сульфида кадмия (CdS) для оптоэлектронных устройств»;
-научный коллектив в составе Ефименко С.А. - канд.техн.наук, доцента, Петлицкая Т.В. - канд.техн.наук, доцента, Чигирь Г.Г. - канд.техн.наук, доцента выполняют исследования в рамках ГПНИ «Фотоника, опто- и микроэлектроника»;
-научный коллектив под руководством Баранова В.В.
- д-ра техн.наук, профессора − участвует в выполнении: ГПНИ «Фотоника, опто- и микроэлектроника» (задание 3.2.01 «Разработка и исследование высоко-стабильных интегрированных пленочных структур на основе переходных металлов и сформированных по твердофазным реакциям их сплавов и соединений для изделий силовой электроники») и ГПНИ «Энергетические системы, процессы и технологии» подпрограмма «Эффективные теплофизические процессы и технологии» (задание 2.18 «Разработать эффективные модули нагрева термолабильных жидких реактивов и методы финишной очистки кремниевых пластин для совершенствования технологии на участках химической обработки»).
Выполнение грантов и хозяйственных договоров:
Под руководством Рака А.О. - канд.физ.-мат.наук, доцента − научный коллектив участвует в выполнении следующих грантов БРФФИ-РФФИ:
- Ф17Д-009 «Моделирование и оптимизация рабочих характеристик
сверхпроводящих резонаторов для линейного протонного ускорителя»;
- Ф17РМ-052 «Генераторы и усилители мощного излучения субтерагерцового и терагерцового диапазонов с перспективными электродинамическими структурами, созданными на базе фотонных кристаллов или с применением сверхпроводящих материалов»
Доцент кафедры Колбун В.С. участвует в программе СНГ «Разработка космических и наземных средств обеспечения потребителей России и Беларуси информацией дистанционного зондирования Земли» («Мониторинг-СГ»).

ПИКС.Научная работа
ПИКС.Научная работа
ПИКС.Научная работа
При проведении научных исследований преподаватели кафедры сотрудничают с учеными и специалистами Национальной академии наук Беларуси, других вузов Беларуси, Российской Федерации, а также с коллегами из стран дальнего зарубежья.

::УЧАСТИЕ В КОНФЕРЕНЦИЯХ
Основные результаты научных исследований ежегодно обсуждаются на международных и республиканских конференциях.
Ежегодно преподаватели, аспиранты, магистранты и студенты принимают участие более чем в 20 конференциях.

:: ПАТЕНТЫ ЗА 2013-2017 ГОДЫ
1. Способ изготовления интегральных микросхем по МОП-технологии: пат. 21442 Респ. Беларусь, МПК H 01L 21/335 / А.С. Турцевич; В.А. Солодуха; В.В. Глухманчук; Л.Г. Сятковски; С.А. Ефименко; заявитель ОАО «ИНТЕГРАЛ» - управляющая компания холдинга «ИНТЕГРАЛ». - N a 20140197; заявл. 26.03.2014; опубл. 30.10.2017 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2017. - N5. - С. 135.
Скачать
2. Способ испытаний интегральных микросхем на коррозионную стойкость: пат. 20116 Респ. Беларусь, МПК G 01R 31/28 / А.С. Турцевич; В.А. Солодуха; Е.П. Самцов; А.С. Горегляд; С.А. Ефименко; заявитель ОАО «ИНТЕГРАЛ» - управляющая компания холдинга «ИНТЕГРАЛ». - N a 20130642; заявл. 18.05.2013; опубл. 30.06.2016 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2016. - N3. - С. 102.
3. Способ разбраковки микроконтроллеров со встроенной флешпамятью после воздействия разряда статического электричества: пат. 21277 Респ. Беларусь, МПК G 01R 31/26 / Г.А. Пискун, В.Ф. Алексеев; заявитель Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. - N а 20140093; заявл. 05.02.2014; опубл. 30.09.2015 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2015. - N 5. - С. 18.
Скачать
4. Способ изготовления кремниевой интегральных микросхемы : пат. 18136 Респ. Беларусь, МПК H 01L 21/77, H 01L 21/04 / А.С. Турцевич; В.А. Солодуха; В.Е. Шикуло, С.А. Ефименко, О.Ю. Наливайко, И.В. Малый; заявитель ОАО «ИНТЕГРАЛ» - управляющая компания холдинга «ИНТЕГРАЛ». - N a 20111797; заявл. 22.12.2012; опубл. 30.04.2014 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2014. - N5. - С. 108-109.
Скачать
5. Способ испытания микроконтроллеров на устойчивость к воздействию электростатических разрядов: пат. 17253 Респ. Беларусь, МПК G 01R 31/26, G 11C 29/52 / Г.А. Пискун, В.Ф. Алексеев, О.А. Брылева; заявитель Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. - N а 20120290; заявл. 28.02.2012; опубл. 30.06.2013 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2013. - N 3. - С. 142-143.
Скачать
6. Способ получения тонких пленок SnS: пат. 17820 Респ. Беларусь, МПК H01L 31/18, C23C 14/24, C30B 29/46 / С.А. Башкиров, В.Ф. Гременок; заявитель Государственное научно-производственное объединение «Научно-практический центр Национальной академии наук Беларуси по материаловедению». - N а 20120124; заявл. 27.01.2012; опубл. 30.08.2013 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2013. - N 5. - С. 152.
Скачать
7. Тонкопленочный полупроводниковый фотодетектор: пат. 16917 Респ. Беларусь, МПК H01L 31/18 / В.Ф. Гременок, С.А. Башкиров; заявитель Государственное научно-производственное объединение «Научно-практический центр Национальной академии наук Беларуси по материаловедению». - N а 20120124; заявл. 28.04.2011; опубл. 28.02.2013 // Афiцыйны бюл. / Нац. цэнтр iнтэлектуал. уласнасцi. - 2013. - N 1. - С. 131-132


:: МОНОГРАФИИ

Боровиков, С.М. Статистическое прогнозирование для отбраковки потенциально ненадежных изделий электронной техники
Боровиков, С.М. Статистическое прогнозирование для отбраковки потенциально ненадежных изделий электронной техники: монография / Боровиков С.М. - Москва: Новое знание, 2013. - 342 с. - ISBN 978-5-94735-161-3
В монографии на основе обобщения и систематизации подходов, используемых для статистического прогнозирования надёжности изделий электронной техники, предложены и исследованы новые методы, позволяющие более эффективно отбраковывать из готовой продукции потенциально ненадёжные экземпляры и (или) выполнять отбор экземпляров повышенного уровня надёжности, а также прогнозировать надёжность выборок (партий) изделий по постепенным отказам.


Башкиров, С.А. Тонкие пленки SnS для приборов оптоэлектроники
Башкиров, С.А. Тонкие пленки SnS для приборов оптоэлектроники / С.А. Башкиров, В.Ф. Гременок - Saarbrucken : LAP LAMBERT Academic Publishing GmbH & Co, 2013. − 109 с.
В работе проведен обзор результатов исследования моносульфида олова (SnS) в контексте потенциального использования данного соединения в фотовольтаических устройствах. Представлены результаты исследований микроструктуры и оптических свойств тонких пленок SnS, полученных методом «горячей стенки», а также создание модельных фоточувствительных тонкопленочных структур на основе SnS. Работа будет полезна специалистам в области полупроводникового приборостроения и тонкопленочной электроники, а также студентам и аспирантам соответствующих специальностей.
Прогнозирование надёжности изделий электронной техники
Прогнозирование надёжности изделий электронной техники / С.М. Боровиков, И.Н. Цырельчук, Е.Н. Шнейдеров, А.И. Бересневич; под ред. С.М. Боровикова; УО «Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники». − Минск: МГВРК, 2010. − 308 с.: ил. - ISBN 978-985-526-074-6
В монографии рассмотрены вопросы статистического прогнозирования надёжности изделий электронной техники с использованием физического моделирования наработки изделий. Приводятся теоретические разработки и экспериментальные исследования метода пороговой логики и метода имитационных воздействий, предложенных авторами для индивидуального прогнозирования надёжности изделий электронной техники. На примере биполярных транзисторов показано применение физико-статистических моделей деградации параметров для группового прогнозирования параметрической надёжности полупроводниковых приборов.
Для научных и инженерно-технических работников, преподавателей, аспирантов, магистрантов и студентов вузов.
Цырельчук, Н.А. Рефлексивное управление
Цырельчук, Н.А. Рефлексивное управление: монография / Н.А. Цырельчук, И.Н. Цырельчук, Н.Н. Цырельчук. − Мн.: МГВРК, 2008. - 512 с. - ISBN 978-985-6851-57-8
Рассматривается процесс трансформации менеджмента в новой, созвучной современности архетип рефлексивного управления. Проведен научный анализ смыслового пространства категорий «управление» и «менеджмент» в контексте исторического развития науки и общественной практики; современных социокультурных тенденций; разновидностей менеджмента (системного, ситуационного, стратегического, партисипативного, образовательного и др.); феномена рефлексии с выделением контекстов «рефлексия и мышление», «рефлексия и сознание», «рефлексия и деятельность» и др.; рефлексивного потенциала основных сил развития системы среднего специального образования Республики Беларусь − интрапренерских (элитных) групп научно-педагогической общественности.
Для исследователей проблематики управления и психолого-педагогической проблематики, менеджеров-практиков и педагогов-практиков, аспирантов, студентов и всех, кто интересуется современными тенденциями в менеджменте, образовании, педагогической деятельности.

Гременок, В.Ф. Солнечные элементы на основе полупроводниковых материалов / В.Ф. Гременок, М.С. Тиванов, В.Б. Залеcский. - Минск: Изд. Центр БГУ, 2007. - 222 с. - ISBN 985-476-443-5.
В коллективной монографии представлены наиболее важные результаты достижений последних лет по основным проблемам полупроводниковой гелиоэнергетики. В издании изложены не только теоретические аспекты той или иной проблемы, но и описаны технологии получения и конструкции полупроводниковых солнечных элементов и действующих модулей, а также показаны перспективы внедрения фотопреобразователй в практику. Книга будет полезна специалистам, работающим в области полупроводникового приборостроения и тонкоплѐночной электроники, а также студентам и аспирантам соответствующих специальностей.

Урбанович, П.П. Избыточность в полупроводниковых интегральных микросхемах памяти / П.П. Урбанович, В.Ф. Алексеев, Е.А. Верниковский. − Мн.: Навука і тэхніка, 1995. − 262 с. - ISBN 5-343-01188-8.
В монографии рассмотрены вопросы разработки и производства избыточных полупроводниковых микросхем памяти (МП). Описаны математические модели распределения статистически независимых и группирующихся дефектных и отказавших элементов на кристаллах МП, построенные на базе обширных статистических данных о характере и причинах возникновения неисправностей. Изложена методика прогнозирующего расчета выхода годных и надежности избыточных МП. Предложены методы построения и схемотехнические решения устройств нейтрализации ошибок, основанные на резервировании корректирующих кодов.
Предназначена для научно-технических работников, специализирующихся в области создания полупроводниковой памяти. Может быть полезна преподавателям, аспирантам и студентам старших курсов вузов соответствующих специальностей.
скачать радионавигации, радиолокации и телевидения.
Дата основания 1964
№ кабинета 412-1
Web-сайт

https://www.bsuir.by/ru/kaf-piks


E-mail

kafres [at] bsuir [dot] by


Специальности ОКРБ 011-2009
Моделирование и компьютерное проектирование радиоэлектронных средств
Техническое обеспечение безопасности

Показатели работы в 2023 г.

Печатных изданий 80
Предприятия для распределения выпускников ОАО «Завод «Спецавтоматика» г. Минск, ЧНИУП «Институт цифрового телевидения» г. Минск, ПРУП « Минский механический завод им. Вавилова» г. Минск, ОАО «МПОВТ» г. Минск, НИРУП «НИИ средств автоматизации» г. Минск, РПУП «Лес» г. Барань Витебская обл., РУПП «Витязь» г. Витебск